《ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies（先进CMOS工艺ESD保护装置及电路设计）》
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日期：2021-08-05
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作品总结
《ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies（先进CMOS工艺ESD保护装置及电路设计）》
《先进CMOS技术的ESD保护装置和电路设计》旨在为电路设计、VLSI可靠性和测试领域的实践工程师提供服务。随着与ESD故障和产量损失相关的问题在现代半导体工业中变得越来越严重，对具备ESD基本知识的毕业生的需求也在增加。今天，对电路设计和可靠性团队进行ESD问题的教育是一项重要的需求。本书试图以系统的方式阐述ESD的设计和实施。设计过程包括器件模拟器和电路模拟器，用于优化器件和电路参数，以实现最佳ESD和电路性能。《先进CMOS技术的ESD保护装置和电路设计》中描述的这种方法，已经实现了几次成功的ESD电路设计，具有优异的性能。
与静电放电(ESD)保护电路的设计和实施相关的挑战正变得越来越复杂，因为器件工艺技术已被很好地扩展到纳米尺度。传统的静电放电设计方法可能是不够的，因为ESD破坏发生在纳米尺寸的低电压下。为了设计出健壮的ESD电路，必须面对几个挑战。由于自动处理技术的扩展和扩散，由充电设备模型(CDM)引起的集成电路中的ESD故障正在增加。清洁发展机制的排放会造成潜在的损害，最终导致集成电路的失效。目前和将来的亚65 nm CMOS电路的ESD保护设计是对高速I/O、多功率域和倒装芯片产品的设计挑战。
《先进CMOS工艺ESD保护装置及电路设计》适用于在电路设计、VLSI可靠性和测试领域工作的工程师。随着现代半导体行业与ESD失效和产量损失相关的问题日益突出，对具备ESD基础知识的毕业生的需求也在增加。今天，对电路设计和可靠性小组进行有关ESD问题的教育有很大的需求。本书试图系统地论述公共服务电子化计划的设计和实施。采用器件模拟器和电路仿真器的设计方法对器件和电路参数进行优化，以达到优化ESD和电路性能的目的。《先进CMOS工艺ESD保护装置及电路设计》中描述的这种方法已成功地完成了几个ESD电路的设计，取得了优异的硅效果，证明了其优点。
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