《辐射对空间应用集成电路和系统的影响》

本书为读者提供了辐射效应领域最重要主题的宝贵概述和更新，使他们能够在寻求在卫星系统中插入更高密度和更高性能的电子元件时面临重大挑战。读者将受益于辐射效应的各个主要（经典）子领域的最新报道，包括空间和地面辐射环境、总电离剂量的基本机制、数字和模拟单事件瞬变、单事件效应的基本机制、系统级SEE分析、器件级、电路级和系统级硬化方法以及辐射硬度保证。此外，本书还深入讨论了几个较新的研究领域，以及辐射效应界当前面临的挑战，例如辐射强化设计，在太空任务中使用商用现货（COTS）组件，立方体卫星和小型卫星，在太空中使用最新一代FPGA，以及辐射测试和验证的新方法。作者提供了必要的背景和基本原理，以及关于辐射效应子领域的最新进展和挑战的信息。

• 简明扼要地介绍辐射效应的基本原理、最新研究成果以及新的测试方法和程序;
  
• 讨论设计用于在恶劣辐射环境中运行的先进集成电路和系统的辐射效应和缓解解决方案;
  
• 包括报道小型卫星对航天工业的影响。