作品总结
《纳米CMOS模拟集成电路的可靠性（Analog IC Reliability in Nanometer CMOS）》
《纳米CMOS模拟集成电路的可靠性》，本书着重于模拟电路老化的建模、仿真和分析。首先，回顾了导致电路不可靠性的所有重要纳米CMOS物理效应。然后，讨论了用于电路仿真的晶体管老化紧凑模型，并对几种有效的电路可靠性仿真方法进行了解释和比较。最后，研究了晶体管老化对模拟电路的影响。识别老化弹性电路和老化免疫电路，并讨论技术扩展的影响。
本书中描述的模型和仿真技术旨在帮助设备工程师、电路设计师和EDA社区理解和减轻老化效应对纳米CMOS IC的影响。
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