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日期:2021-12-18
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《半导体材料与器件表征,第三版》
《gm/ID方法,低压模拟CMOS电路的尺寸工具:半经验和紧凑模型方法 (The gm /I D Methodology, A Sizing Tool for Low-voltage Analog CMOS Circuits: The semi-empirical and compact model approaches)》
《半导体制造和工艺控制基础(Fundamentals of Semiconductor Manufacturing and Process Control)》
《现代半导体物理与器件应用》
《应变硅异质结构场效应器件》
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