在工程技术领域，采样电路的精度一直是科研人员追求的目标。

这个专利装置的核心在于两个采样电路——第一采样电路和第二采样电路。它们各自拥有一个信号输入端，用于接收待采样的信号，以及一个触发输入端，用于接收触发脉冲以打开采样电路中的开关电路。第二采样电路还特别包含一个采样保持电路，它能够在由触发脉冲输入端接收到的信号所确定的时间点上，输出一个指示第二采样电路信号输入端电势的信号。

更为神奇的是，这两个采样电路的信号输入端通过一条信号导体相连，使得第一采样电路能够在其信号输入端上生成一个脉冲，这个脉冲能够反映出第一采样电路的脉冲响应。

接下来，这个装置还包括了三个关键部分：

首先是一个触发脉冲生成电路，它能够产生一系列触发脉冲对。每一对触发脉冲中，第一个脉冲相对于第二个脉冲有一定的延迟。

其次是一个连接电路，它负责将第一个脉冲应用到第一采样电路的触发输入端，将第二个脉冲应用到第二采样电路的触发输入端。

最后是一个控制器，它能够设置第一个脉冲和第二个脉冲之间的延迟，并测量第二采样电路中采样保持电路的输出。

通过这三个部分的协同工作，这个装置能够精准地捕捉到第一采样电路的脉冲响应，并据此对其进行校准。这不仅能够提高采样电路的精度，还能够为后续的信号处理提供更加可靠的数据支持。

这一技术的出现，预示着采样电路校准领域的一个重要发展趋势：即利用双采样电路进行相互校准，以实现更高的精度和稳定性。这一趋势将推动工程技术领域的不断进步，为各种应用场景提供更加精准、可靠的采样电路解决方案。