作品总结
《辐射检测系统：传感器材料、系统、技术和表征测量》
《辐射检测系统：传感器材料、系统、技术和表征测量》，近年来，半导体探测器、闪烁体、硅光电倍增管 (SiPM) 等光电探测器和 reaodut 电子器件在基础技术和应用多样性方面取得了巨大的进步。《辐射探测系统》一书的第二版介绍了各种辐射检测系统让读者广泛了解检测器、前端电子设备和系统设计的最新技术，为特定应用提供检测工具的优化选择。新版分为两卷。第一卷，关于传感器材料、系统、技术和表征测量，重点介绍传感器材料、探测器结构、前端电子技术及其设计以及针对不同应用的系统优化。此外，本书还包括已开发检测系统的表征测量。本书汇集了各自领域的领先专家和先驱者的贡献，
• 描述碲化镉锌（CdZnTe）和碲化镉（CdTe）材料的生长技术进展
• 展示了各种特定的检测器结构设计及其与前端放大/处理电子设备的集成
• 展示基于CdZnTe 和CdTe 探测器技术的探测系统，这些技术针对特定应用进行了优化。所设计的系统的特征在于它们的光谱响应、空间和时间分辨率
• 解决不完整的电荷收集、脉冲堆积、相邻探测器像素之间的电荷共享以及其他可能降低光子计数探测器光谱响应的现象
• 报告了用于读取闪烁体光的硅光电倍增管的新发展，这些新发展开始产生重大影响，特别是在新型医疗仪器的设计概念方面
本书涵盖了新材料和创新的新系统方法，并简要概述了最近的发展，对于任何在电子或相关领域工作的工程师、专业人士或学生来说，它都是一个非常宝贵的工具。读者可以参考第二本书，详细了解检测系统在医学成像、工业测试和安全应用中的更具体应用。
客服咨询
400 093 7005
周一至周日：09:00AM-21:00PM
微信扫码关注
小程序扫码注册
0条评论