作品总结
《用于射频集成电路的片上静电放电 （ESD） 保护》
本书使读者能够为所有主流射频制造工艺（砷化镓、乙型乙型硅橡胶、CMOS）设计有效的ESD保护解决方案。与现有的ESD保护器件相比，作者引入的新技术具有更高的保护水平和更低的寄生效应。作者详细描述了ESD现象，以及ESD保护的基本原理、标准、测试设备和基本设计策略。读者将受益于对RFIC的ESD保护的真实案例研究，并将学习如何显着提高现代RFIC的ESD安全水平，同时最大限度地提高RF性能。
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