《电子系统有效性和生命周期成本》

作者：

日期：2023-03-04

出版：

本卷书中包含北约高级研究所关于电子和其他系统可靠性各个方面的完整论文集。本书出版的目的是汇集这方面的专家。正如许多代表向我指出的那样，这次会议的一项重要成果是补充了软件和硬件方面的理论概念和实际应用。

读者将在本书中找到有关数学背景的论文，关于系统故障可能危险的机构的可靠性问题，关于机械系统的可靠性评估，以及关于生命周期成本模型和备件分配的论文。

本书的会议记录包括所有演讲的案文，以及小组讨论的逐字记录，这些讨论的主题是从广泛的重要问题中选出的。

400 093 7005

周一至周日：09:00AM-21:00PM

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