热门搜索:
首页
文库
书籍之外
登录
注册
作者:
日期:2023-10-09
出版:
分享
本书通过研究故障机理、热参数监测、结温估计、寿命评估和热管理等重点介绍功率半导体器件的热可靠性。通过理论分析和实验测试对现有的可靠性改进技术进行了解释。本书对于关注功率半导体器件热可靠性设计的学生和研究人员来说具有有价值的参考价值。
《通用人工智能:简介》
《谐振功率转换器》
《高分辨率极紫外显微镜:使用激光驱动的超快 XUV 源对人工和生物样本进行成像》
《现场可编程门阵列的数字信号处理》
《产品开发:工程师业务考虑指南、实际产品测试和发布》
0条评论