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日期:2023-09-03
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《扫描非线性介电显微镜:铁电、电介质和半导体材料和器件的研究》是表征铁电、电介质和半导体材料的重要工具的权威参考资源。该书由发明人撰写,回顾了将该技术应用于关键材料应用的方法,包括在原子尺度上测量铁电材料以及以高灵敏度可视化和测量半导体材料和器件。最后,本书回顾了该技术对铁电和半导体材料中的材料和器件物理的新见解。 本书适合学术界和工业界从事铁电、介电和半导体材料器件开发的人员。 介绍其发明者对SNDM材料表征技术的深入了解 回顾关键材料应用,例如纳米级铁电材料的测量以及半导体材料和器件的测量 分析从SNDM技术得出的半导体材料和器件物理的关键见解
《扫描非线性介电显微镜:铁电、电介质和半导体材料和器件的研究》是表征铁电、电介质和半导体材料的重要工具的权威参考资源。该书由发明人撰写,回顾了将该技术应用于关键材料应用的方法,包括在原子尺度上测量铁电材料以及以高灵敏度可视化和测量半导体材料和器件。最后,本书回顾了该技术对铁电和半导体材料中的材料和器件物理的新见解。
本书适合学术界和工业界从事铁电、介电和半导体材料器件开发的人员。
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