《低功耗高分辨率模数转换器：设计、测试和校准（Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration）》
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日期：2021-10-18
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作品总结
《低功耗高分辨率模数转换器：设计、测试和校准（Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration）》
随着CMOS制造技术的快速发展，越来越多的信号处理功能以更低的成本、更低的功耗、更高的成品率和更高的可重构性在数字领域实现。这就产生了对低功耗、低电压a/D转换器的巨大需求，这种转换器可以在主流深亚微米CMOS技术中实现。然而，光刻波长和电路特征尺寸之间的差异正在增加。较低的电源电压可显著降低噪声裕度，并增加工艺、设备和设计参数的变化。因此，要精确地控制制造工艺以保持均匀性将变得更加困难。纳米尺度制造中使用的材料固有的随机性意味着性能将变得越来越多变，不仅在不同的die之间，而且在每个单独的die内也是如此。随着时间的推移，纳米级集成电路的退化会导致参数的不稳定性，最终导致故障的产生，从而加剧参数的可变性。工艺变化不能通过提高制造公差来解决；为了继续扩展，必须通过新的设备技术或设计来降低这种可变性。同样，die内性能变化也对测试方法提出了新的挑战。
为了解决这些问题，低功耗高分辨率模数转换器特别关注：i）通过探索低压模拟设计和校准技术的潜力，分别提高高速和低杂散频谱A/D转换性能的功率效率，ii）开发电路技术和算法，以增强测试和调试潜力，动态检测错误，隔离和限制故障，并持续恢复错误。用标准180nm、90nm和65nm CMOS工艺制作的硅原型进行测量，验证了所述方法的可行性。
目录：
封面…第i-xx页
导言……第1-10页
模拟到数字转换…第11-40页
多步模数转换器的设计…第41-102页
多步模数转换器测试…第103-182页
多步模数转换器调试…第183-251页
结论和建议……第253-267页
背景资料……第289-293页
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