作品总结
《现代电子系统中的软错误》
《现代电子系统中的软错误》，本书全面介绍了最先进的研究成果和技术发展，有助于理解、限定和减轻先进电子产品中的软错误效应，包括辐射引起的软错误的基本物理机制、导致系统故障的各个步骤、各个层次（包括物理、电气、网表、事件驱动、RTL 和系统级建模和仿真）的软错误建模和仿真、硬件故障注入、加速辐射测试和自然环境测试、面向软错误的测试结构、过程级、设备级、单元级、电路级、架构级、软件级和系统级软错误缓解技术。
本书全面介绍了在理解、限定和减轻先进电子系统中软错误效应方面的最新进展，由可靠性、容错、EDA、处理器、SoC 和系统设计方面的学术界和行业专家介绍，特别是，来自在产品可靠性和相关业务问题方面面临软错误影响的行业的专家，并站在这些公司采取多层次对策的最前沿，以商业产品可接受的成本减轻软错误影响。在一个快速发展的领域中，软错误对地面电子产品的影响是最近才出现的，并且其严重性在每个新工艺节点上都在稳步增加，对各个行业产生一个接一个的影响（例如，汽车电子委员会开始发布有关以下方面的资格要求）软错误）、研究和技术发展以及工业实践发展得非常快，因此这本最新书籍是您及时的参考书籍。
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