作品总结
《超大规模集成电路电路的软错误可靠性：分析和缓解技术》
《超大规模集成电路电路的软错误可靠性：分析和缓解技术》本书适用于对稳健可靠的电子数字系统的设计感兴趣的读者。作者介绍了当今可靠电子系统设计的新兴趋势，这些系统适用于安全关键型应用，例如汽车或医疗保健电子系统。本书的重点是建模方法和算法，用于分析和减轻纳米级 CMOS 数字电路中的软错误，使用的技术是可靠 VLSI 电路的计算机辅助设计 (CAD) 的基石。作者介绍了用于分析和减轻电子系统中软错误的软件工具，这些工具可以轻松地与设计流程集成。除了讨论组合逻辑的软错误感知分析技术之外，作者还描述了针对商业数字电路的新的软错误缓解策略。覆盖范围包括新的软错误率 (SER) 分析技术，例如工艺变化感知 SER 估计和 GPU 加速 SER 分析技术，以及 SER 减少方法，例如基于门大小和逻辑重构的 SER 技术。
本书的特色：
提供对软错误的可访问的、全面的介绍；
描述了一个易于遵循的数字电路软错误率的建模、分析和估计过程；
包括最先进的软错误感知 CAD 算法；
描述用于商业大规模 VLSI 设计的实用软错误感知综合技术。
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