作品总结
《软错误机制、建模和缓解》
《软错误机制、建模和缓解》本书向读者介绍了各种辐射软错误机制，例如软延迟、辐射引起的时钟抖动和脉冲以及单事件 (SE) 耦合引起的效应。除了讨论组合逻辑的各种辐射硬化技术之外，作者还描述了针对商业设计的新的缓解策略。覆盖范围包括新颖的软错误缓解技术，例如动态阈值技术和基于具有不同栅极和体偏置的传输门的软错误过滤。讨论还包括对 SE 串扰噪声、延迟和加速效果的建模。还介绍了消除 SE 耦合效应的各种缓解策略。覆盖范围还包括低功耗节能设计的可靠性以及泄漏功耗优化对软错误鲁棒性的影响。作者对各种功耗优化技术进行了分析，使读者能够做出降低静态功耗并同时提高软错误可靠性的设计选择。
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