作品总结
《多处理器片上系统可靠性的高级估计与探索》
《多处理器片上系统可靠性的高级估计与探索》，本书介绍了一种新颖的框架，用于准确模拟纳米级 CMOS 技术中的错误，并在高级设计抽象中开发流畅的工具流程，以估计和减轻错误的影响。本书介绍了用于高级故障模拟和可靠性估计以及架构级和系统级容错设计的新技术。它还提供了对最先进问题和解决方案的调查，提供了对数字设计中可靠性问题及其跨层对策的见解。 .阅读更多...
摘要：本书介绍了一种新颖的框架，用于准确模拟纳米级 CMOS 技术中的错误，并在高级设计抽象中开发平滑的工具流程，以估计和减轻错误的影响。本书介绍了用于高级故障模拟和可靠性估计以及架构级和系统级容错设计的新技术。它还提供了对最先进问题和解决方案的调查，提供了对数字设计中可靠性问题及其跨层对策的见解。
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