本专利提出了一种系统和方法，用于整合多个单端口矢量网络分析器模块，这些模块可以位于彼此之间相当远的距离。研究旨在解决如何同步源信号与远程接收器、校准、操作、带宽减少、高隔离以及在太阳能或远程站点可靠供电的问题，使得VNA模块能够像集成在一个单一矢量网络分析器机箱中一样，使用共同的时钟进行设备测试（DUT）的特性分析。

VNA（矢量网络分析仪）块图的基本结构包括一个激励源，该源施加在被测设备（DUT）的输入端，输出端则有一个响应接收器。对于S参数测量，输入端包括所有端口的入射波，而输出端由所有端口的散射波组成，因此通常需要在每个端口上设置一个刺激源和两个接收器。此外，每个端口还必须具有信号分离装置，以隔离入射波和散射波 。

这篇文档是关于脉冲发生器的全面概述，特别关注于市面上可用的、过渡时间为1纳秒或更快的设备。作者James R. Andrews博士回顾了脉冲发生技术的历史演变，介绍了不同类型的脉冲发生器，包括常规晶体管、雪崩晶体管、阶跃恢复二极管、隧道二极管和真空管脉冲发生器。文中详细讨论了每种类型的技术特点、性能指标及其在电子仪器中的应用，强调了半导体技术的进步和新技术的出现对脉冲发生器发展的推动作用。

这篇文档主要讨论了皮秒域波形测量的现状和未来发展方向。作者Norris S. Nahman对电磁波谱中电气和光学领域的皮秒波形测量进行了全面概述，强调了IEEE脉冲标准181和194的重要性，这些标准为脉冲和波形术语提供了基本定义，确保测量的一致性和准确性。文中总结了各种测量方法的分类，介绍了实时和等效时间测量技术的最新进展，并探讨了未来在电子设备、光脉冲技术和光脉冲门控技术等领域的发展方向。该章节为高速度脉冲测量领域的研究人员和工程师提供了宝贵的资源，强调了电气与光学测量方法的融合及其在光电技术中的重要性。

这份专利文档介绍了一种新型测量电路，旨在减轻现代测量仪器中常用的直接数字合成器（DDS）所产生的杂散信号（spurs）的负面影响。DDS在与参考时钟信号相关的频率上生成杂散信号，这些信号会污染用于测量的中频（IF）范围，导致结果不准确。该电路通过同时调整时钟信号频率和DDS的频率调谐字（FTW），有效地将杂散信号频率移出分析带，而不改变本振信号频率，从而确保测量的准确性。此技术可广泛应用于信号分析仪、频谱分析仪和矢量网络分析仪等仪器，显著提高测量精度和效率。

本专利介绍了一种新颖的信号处理方法，用于准确测量被测设备（DUT）的噪声系数，特别是在通信设备中。该方法解决了区分DUT产生的噪声与测量仪器自身引入的噪声的挑战。通过捕获多个IQ数据集并计算其平均值，分析电路能够有效抑制所有来源的噪声，从而精确测量DUT的噪声贡献。该方法具有高精度、降低测量不确定性、节省测量时间和成本效益等优点，适用于电子设备的噪声系数测量，尤其在通信系统中具有重要意义。

这份技术披露主要关注于改进矢量网络分析仪（VNA）的校准过程。现有的校准方法通常需要手动断开和重新连接校准单元，导致耗时且连接器磨损加剧。该披露提出了一种新型的校准单元、系统和方法，消除了手动重新连接的需要，从而实现更快速和高效的校准。

主要问题包括校准过程耗时、连接器磨损加快以及吞吐量有限。提出的解决方案引入了一个隔离电路的校准单元，允许在不断开设备的情况下进行各种校准测量。该方案的主要优点包括减少校准时间、提高吞吐量、降低连接器磨损以及支持多个VNA端口的同时校准。

总体而言，该技术披露为VNA校准领域提供了重要的改进，解决了现有方法的局限性，提供了更简化和高效的解决方案。

这份专利申请描述了一种扩展矢量网络分析仪（VNA）接收器工作带宽的方法和系统。该发明解决了传统VNA因方向耦合器频率范围有限而导致的带宽受限问题。通过在射频源路径上使用多个反射计接收器，系统能够覆盖更宽的带宽，从而提高测量设备的能力，适用于电信、雷达和高速电子等高频测量应用。

本文介绍了一种基于步进恢复二极管（SRD）和非线性传输线（NLTL）的新型皮秒级脉冲生成电路。