一种用于校准第一采样电路和具有类似脉冲响应的第二采样电路的装置和方法。第二采样电路包括采样和保持电路，该电路提供指示第二采样电路的采样电路输入端的电位的输出，该电位由第二采样电路的触发脉冲输入端的信号确定。该装置包括触发脉冲生成电路，用于生成触发脉冲对序列，每对具有相对于第二脉冲延迟的第一脉冲。每个脉冲施加到采样电路的相应触发输入端。假设第一采样电路在被第一脉冲触发时生成指示其脉冲响应的启动脉冲。控制器测量第二采样电路的每个延迟的输出。

本文介绍了一种用于对同一待测设备（DUT）输入的多个射频信号进行内联校准的方法和系统，以确保即使在需要重新校准（例如因温度波动）的情况下也能进行无中断的高精度和高效率测量。

本文介绍了一种单片式采样器的专利，该采样器通过使用冲击波发生器来实现超过100 GHz的带宽，解决了传统采样电路设计或组件限制导致的采样率不足的问题。

研究问题：本发明主要解决现有参考接收器设计中存在的问题，特别是离散参考接收器滤波器引起的反射和信号失真问题。在高速数据传输中，如10 Gb/s及以上，理想的频率响应曲线应为高斯型，但实际中很难实现。传统的参考接收器通常采用匹配4阶或5阶贝塞尔-汤姆逊滤波器响应的离散参考接收器滤波器，但这些滤波器会产生反射，需要反向终止光学-电转换器，从而导致信号失真。

本专利提出了一种系统和方法，用于整合多个单端口矢量网络分析器模块，这些模块可以位于彼此之间相当远的距离。研究旨在解决如何同步源信号与远程接收器、校准、操作、带宽减少、高隔离以及在太阳能或远程站点可靠供电的问题，使得VNA模块能够像集成在一个单一矢量网络分析器机箱中一样，使用共同的时钟进行设备测试（DUT）的特性分析。

这份专利文档介绍了一种新型测量电路，旨在减轻现代测量仪器中常用的直接数字合成器（DDS）所产生的杂散信号（spurs）的负面影响。DDS在与参考时钟信号相关的频率上生成杂散信号，这些信号会污染用于测量的中频（IF）范围，导致结果不准确。该电路通过同时调整时钟信号频率和DDS的频率调谐字（FTW），有效地将杂散信号频率移出分析带，而不改变本振信号频率，从而确保测量的准确性。此技术可广泛应用于信号分析仪、频谱分析仪和矢量网络分析仪等仪器，显著提高测量精度和效率。

本专利介绍了一种新颖的信号处理方法，用于准确测量被测设备（DUT）的噪声系数，特别是在通信设备中。该方法解决了区分DUT产生的噪声与测量仪器自身引入的噪声的挑战。通过捕获多个IQ数据集并计算其平均值，分析电路能够有效抑制所有来源的噪声，从而精确测量DUT的噪声贡献。该方法具有高精度、降低测量不确定性、节省测量时间和成本效益等优点，适用于电子设备的噪声系数测量，尤其在通信系统中具有重要意义。

这份技术披露主要关注于改进矢量网络分析仪（VNA）的校准过程。现有的校准方法通常需要手动断开和重新连接校准单元，导致耗时且连接器磨损加剧。该披露提出了一种新型的校准单元、系统和方法，消除了手动重新连接的需要，从而实现更快速和高效的校准。

主要问题包括校准过程耗时、连接器磨损加快以及吞吐量有限。提出的解决方案引入了一个隔离电路的校准单元，允许在不断开设备的情况下进行各种校准测量。该方案的主要优点包括减少校准时间、提高吞吐量、降低连接器磨损以及支持多个VNA端口的同时校准。

总体而言，该技术披露为VNA校准领域提供了重要的改进，解决了现有方法的局限性，提供了更简化和高效的解决方案。

这份专利申请描述了一种扩展矢量网络分析仪（VNA）接收器工作带宽的方法和系统。该发明解决了传统VNA因方向耦合器频率范围有限而导致的带宽受限问题。通过在射频源路径上使用多个反射计接收器，系统能够覆盖更宽的带宽，从而提高测量设备的能力，适用于电信、雷达和高速电子等高频测量应用。

这款测试仪的核心在于它的独特设计。它拥有一个公共端口，可以连接到被测设备（DUT）的信号输出端，从而接收来自DUT的前向传输信号。这个信号会被送到测试仪内的信号分析电路，该电路会对信号进行详细的分析，以评估DUT的性能表现。 不仅如此，测试仪还内置了一个信号发生器电路，它连接在信号线上，能够生成一个后向传输信号，并将其发送到公共端口。这个信号发生器电路还设有一个参考信号输入端，可以接收来自参考信号发生器的信号，并基于这个参考信号来生成后向传输信号。