《硅芯片后端验证和调试》
本书全面介绍了片上系统(SoC)芯片流片后验证和调试挑战以及最先进的解决方案,并听取了SoC设计人员、学术研究人员以及SoC验证专家的贡献。读者将清楚地了解现有的调试基础设施,以及如何有效地利用它们来验证和调试SoC。 - 全面概述 SoC 芯片后验证和调试挑战;
- 涵盖开发片上调试基础设施的最新技术;
- 描述用于生成硅后测试和断言的自动化技术,以实现有效的硅后调试和覆盖率分析;
- 涵盖使用基于仿真的技术和形式化方法的组合进行可扩展的硅后验证和错误定位;
- 介绍工业 SoC 设计的硅后调试案例研究。
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