《具有PVT角点和布局效果约束的模拟IC自动尺寸调整和优化（Automatic Analog IC Sizing and Optimization Constrained with PVT Corners and Layout Effects）》
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日期：2021-11-09
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作品总结
《具有PVT角点和布局效果约束的模拟IC自动尺寸调整和优化（Automatic Analog IC Sizing and Optimization Constrained with PVT Corners and Layout Effects）》
《具有PVT角点和布局效果约束的模拟IC自动尺寸调整和优化》这本书向读者介绍了自动模拟集成电路（IC）尺寸和优化的各种工具。作者从历史的角度介绍了解决模拟电路自动尺寸确定问题的早期方法，重点介绍了确定电路尺寸和优化电路的方法，以及评估电路性能的方法。讨论还包括稳健的电路设计和优化，以及布局感知模拟尺寸调整方法的最新进展。作者描述了一种模拟IC设计自动流程的方法，包括输入和接口的细节、多目标优化技术以及使用机器学习技术在基本实现中所做的增强。详细讨论了梯度模型，以及在电路尺寸中考虑布局效应的方法。对所有模块的概念和算法进行了全面描述，使读者能够重现方法，提高设计质量，或将其用作新工具的起点。本书包括一组广泛的应用示例，以演示所述方法的功能和特点。
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