作品总结
《VLSI 测试：数字和混合模拟/数字技术》
随着在单个IC芯片上制造的电路的复杂性日益增加，测试集成电路（IC）的重要性不断上升。不再可能设计一个新的IC，然后再考虑测试问题j：这些考虑因素必须是初始设计活动的一部分，测试策略应该是每个电路和系统设计人员教育的一部分。本书是对IC测试各个方面的全面介绍和参考。它包括高级学生所需的所有基本概念和理论，从实际测试策略和工业实践，到测试的经济和管理方面的知识。除了详细覆盖数字网络测试外，VLSI测试还深入考虑了模拟和混合模拟/数字IC测试不断增长的应用领域，特别是在信号处理中使用。
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